SNJ54BCT8374AJT
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
| 參數(shù)名稱(chēng) | 參數(shù)值 |
|---|---|
| Product Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -55°C ~ 125°C |
| Mounting Type | Through Hole |
| Package/ Case | 24-CDIP (0.300", 7.62mm) |
| Supplier Device Package | 24-CDIP |
新聞資訊
Texas Instruments 專(zhuān)業(yè)邏輯 產(chǎn)品 SNJ54BCT8374AJT
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